
(SAFETY INSTRUMENTED SYSTEMS VERIFICATION 14章 Chemical Industryより) SIF安全計装機能による機器への要求事項と、SIL決定後の機器の選定事例を紹介する。 SILは、サイトの仕様,許容リスクと、プロセス条件,化学品の仕様,機器の設計条件,制御システム,独特のハザー ドの評価により決定する。
反応の乱れが生じたとき、反応器の内温,内圧が上昇する。SIFは、内温,内圧が上限を超えたときにフィード弁を閉とする機能から規定される。
SIFの設計−検出端として圧力スイッチと温度スイッチを用いる。
PFDAVG算出のためのFT(Fault Tree)を図5に示す。
PFDAVG.は10年間8760時間の運転時間を基に算出され、うち24時間は安全PLC内で、検出された故障の危険の修復に充てられる。
PFDはGateごとに表4のデータを用いて概算計算にて算出できる(図6参照)
表5にサブシステムのPFD、
PFDAVG.を示す。
PFDAVG.=0.0555となるが、SIL2を満たしていない。
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| 反応機SIF安全要求仕様 |
| SIFの起因 | 危険事象 | 入力 | SIL | 出力 |
| 反応機からの 送り出しラインの 故障による、 反応機内の高温,高圧 |
爆発や機器の 損傷による ラプチェアからの 可燃性ガスの 大気への放出 |
PS TS |
2 | フィード弁閉 |
安全要求仕様−SIF=SIL2(反応の乱れは5年に1回以下)プロセス−10年間の安定運転が前提。
図4 反応器でのSIF安全要求仕様と機器の選定事例
PFD |
PFDAVG |
||
| Sensor subsystem | G2 |
0.0045 |
0.0019 |
| Safty PLC subsystem | G3 |
0.0018 |
0.0010 |
| Final Element subsystem | G4 |
0.1037 |
0.0526 |
| 合計 | 0.0555 |
||
表5 サブシステムのPFD、PFDAVG
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| 図5 PFDAVG算出のためのFT |
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| 表4 計測器の故障率と故障モードのデータ |
G6-圧力スイッチ,安全PLC D/I,伝送ライン G7-温度スイッチ,安全PLC D/I
G5-圧力スイッチと温度スイッチの1oo2多数決を示す。 G2−センササブシステム,G5の結果に2個のセンサと安全PLCの共通原因故障を
加える。 G3−安全PLC内の回路 1D/Iモジュール,1D/Oモジュールと、全ての共通回路,プロセッサーを含む G4−操作端のサブシステム,電磁弁,アクチュエータ/弁を含む |
図6 PFDの計算方法:故障率
以上のケースでは、は明らかに操作端サブシステムに問題あり、SIL2の要求を満たしていない。操作端を1oo2多数決構成することが考えられる。共通原因故障β=10%
とするため、独立したサービスの弁が要請される。
1oo2多数決の2個弁として、再計算した結果を示す。(SILverによる)
SIF計算結果 PFDAVG.=0.0109 (SIL2を満たしていない)
| 反応器 検出端(温度,圧力 | PFDAVG=0.00194 |
| SIL2 PLC | PFDAVG=0.000923 |
| 1oo2弁 | PFDAVG=0.00802 |
他の代替設計では1つの弁で部分的弁ストロークテストを用いるものがある。
FMEDAによるアクチュエータ,弁のデータを表6に示す。