製品案内

SIEMENS レーザ式ガス分析計
LDS6

  • シーメンス
  • プロセス用ガス分析計
  • レーザー式

主な用途

チューナブルダイオードレーザによるレーザ吸収分光法を用いたIn-situタイプのレーザ式ガス分析計

SIEMENS レーザ式ガス分析計 イメージ画像

主な特長

チューナブルダイオードレーザによるレーザ吸収分光法を用いたIn-situタイプのレーザ式ガス分析計

高速応答1~3秒…サンプリングによる応答時間の遅延なし

内蔵の参照セルによる自己校正により、ゼロ/スパンドリフトは長期間発生しません

H2O濃度の同時測定が可能(NH3,HCI,HFとの組合わせ時)

ダスト濃度変化をダイナミックバックグランド補正することにより、高ダスト濃度(1g/Nm3以上)環境下でも対応可能

単一波長レーザ採用により、高い選択性を実現

レーザダイオードをセントラルユニット内に配置し、センサユニットに搭載される電子部品は最小限設計を実現

受信信号を光信号にて伝送するため、高い耐ノイズ性を実現

同一測定対象であれば、1台のセントラルユニットに3セットまでセンサユニットを接続することが可能

動作原理

プロセスガスに含まれるCO、CO2、HF、NH3、HCI、H2Oなどの分子は、近赤外領域レーザを吸収する特性を有しており、その吸収強度から分子の濃度を知ることができます。この吸収帯(波長)は分子の種類によって様々であるため、測定したい分子の吸収波長をうまく選択することで、他の分子の干渉を受けることなくガス濃度を測定することができます。セントラルユニットに内蔵されたダイオードレーザにて生成された近赤外波長レーザは、ハイブリッドケーブルと呼ばれる光ケーブルを経由して投光センサからプロセスガス中に照射され、受光センサのフォトトランジスタにて電気信号として検出されます。この検出された電気信号は、再び光信号に変換されループケーブルおよびハイブリツドケーブルを経由してセントラルユニットに返ってきます。照射されたレーザ強度と受光されたレーザ強度を比較することで、測定対象ガス成分の濃度を測定することが可能となります。セントラルユニットは、測定対象成分を封入した参照セルを内蔵しており、この参照セルによって常時自己校正が行われます。
 また、ダイオードレーザの発光強度も監視しており、常時ダイオードレーザの異常監視およびゼロ校正が行われます。このため、LDS6は、標準ガスを用いての校正作業を行う必要がありません。

資料

仕様詳細
仕様詳細
カタログ
カタログ
取扱説明書会員限定
取扱説明書【LDS6】

製品に関するお問い合わせ:
0120-175-475

受付時間:
平日 09:00-17:30(年末年始及び祝日を除く)